推力試驗探針
本套探針分別符合GB2099.1-2008標準中的圖9及圖 10、IEC884-1.2002圖9及圖10要求，20N推力探針主要用于檢驗保護門內(nèi)的帶電部件是否被觸及，1N推力探針主要用于檢驗保護門內(nèi)的帶電部件及有加強保護插座的帶電部件是否被觸及。
- 型號： SC-T32
- 品牌： 廣州世測（SHC)
- 技術(shù)標準： 符合GB2099.1-2008標準中的圖9及圖 10、IEC884-1.2002圖9及圖10要求
產(chǎn)品概述
本套探針分別符合GB2099.1-2008標準中的圖9及圖 10、IEC884-1.2002圖9及圖10要求，20N推力探針主要用于檢驗保護門內(nèi)的帶電部件是否被觸及，1N推力探針主要用于檢驗保護門內(nèi)的帶電部件及有加強保護插座的帶電部件是否被觸及。
技術(shù)參數(shù)
20N推力試驗探針SC-T32：探針部分3+0.03 0×1+0.015 0 ×80±0.5，端部倒圓R0.2±0.05，20N推力;
1N推力試驗探針SC-T32：探針部分Φ1+0.015 0 ×80±0.5，端部倒圓R0.05，1N推力
使用方法
將探針端部接觸試樣，然后施力20N（1N），當(dāng)探針凸出端A-A面與B-B面平齊即可。